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容立通：關于三星高容貼片電容容量偏低現象說明
2020-08-28(1590)次瀏覽
三星電容一級代理：關于三星高容貼片電容容量偏低現象說明：如果是NP0的。這種材料沒有衰減，那么容量偏低，如果測試條件(頻率、電壓)選擇正確，就是產品問題。
如果是X7R X5R Y5VZ5U，是有老化特性的，由于產品時間長放置容量會衰減，但是這種過程是可逆的，當我們在給產品加熱到一定程度后(通過居里點30分，不包括加熱過程時間和冷卻時間)，然后冷卻大概12~24小時，測試才準確。如果還低，那得考慮是不是產品本身的問題了。
容立通有送過一批三星貼片電容至客戶處測試，發現幾個高容產品的型號容量偏低，高容貼片電容型號容量為什么會偏低，下面三星電容一級代理：朗璣電子為大家分析一下：
首先，三星貼片電容送樣容量偏低的型號如下：
C 0805 X5R 22UF M 10V 15pcs
C 0805 X5R 10UF K 10V 15PCS
C 0805 X5R 4.7UF K 25V 15PCS
C 0805 X7R 2.2UF K 16V 15PCS
C 0805 X5R 10UF K 16V 15PCS
C 0603 X7R 4.7UF K 16V 15PCS
C 1206 X5R 10UF K 16V 15PCS
看過客戶的測試報告，客戶的測試要求跟條件都是符合的，那為什么測試出容值NG呢?我們需要了解一些專業的知識，MLCC Ceramic 材料分為ClassI(CaTiO3 材料C0G,NPO等)與ClassII(BaTiO3材料X5R,X7R,Y5V等)BaTiO3材質MLCC的電容量隨時間而減小，這一特性稱之為電容老化。
電容老化是具有自發性極化現象的鐵電陶瓷獨有的現象，是不可避免的自然現象。
當陶瓷電容器加熱到居里點(大約為150℃)以上的溫度時,晶體結構發生改變，自發性極化消失，并使之處于無載荷狀態。直到冷卻至居里點以下，隨著時間的流逝，逆轉自發性極化變得越來越困難，結果，所測的電容值會隨著時間而減小。
當在居里點以下溫度時BaTiO3的晶體結構發生偏移， 導致正、負電荷的生點發生偏差，造成極化現象。
什么是de-aging?如何實現de-aging?
老化是一種可逆的現象，當對老化的材料加以高于居里溫度的高溫，材料的分子結構將會回到 原始狀態。材料將由此開始老化的又一個循環。
三星電容一級代理建議進行de-aging所使用之條件為150℃+0/-10 ℃ /1hour。即可以將產品回到原始之正常規格之內。
是否只有三星的MLCC產品有老化現象?
回答是否定的。老化現象發生在任何一家廠商的ClassⅡ(BaTiO3)類陶瓷電容器。它是普遍的自然現象。如果有遇到此類問題可以聯系三星電容一級代理—朗璣電子進行技術分析。
0755-23356982
